半導(dǎo)體高低溫測(cè)試機(jī)典型應(yīng)用介紹

半導(dǎo)體高低溫測(cè)試機(jī)也稱為氣體制冷加熱控溫系統(tǒng)、高低溫沖擊氣流儀、熱流儀等，采用流體溫度控制技術(shù)，在元器件半導(dǎo)體行業(yè)進(jìn)行各種溫度測(cè)試模擬應(yīng)用，控溫范圍-92℃~250℃，具有寬的溫度方向和高溫升降，適用于各種測(cè)試要求。
冠亞制冷半導(dǎo)體高低溫測(cè)試機(jī)適用于電子元件的準(zhǔn)確溫度控制，在用于惡劣環(huán)境的半導(dǎo)體電子組件制造中，ic封裝組裝、工程和生產(chǎn)測(cè)試階段包括電子熱測(cè)試和其他溫度（-45℃至+250℃）下的環(huán)境測(cè)試模擬。一旦投入實(shí)際使用，這些半導(dǎo)體器件和電子產(chǎn)品可以暴露在嚴(yán)苛的環(huán)境條件下，以滿足苛刻的可靠性標(biāo)準(zhǔn)。
一、高精度制冷加熱控溫系統(tǒng)
溫度控制范圍：-85℃~+250℃
溫度控制精度：±0.3℃
應(yīng)用領(lǐng)域：研究院、航空航天、半導(dǎo)體和電氣工業(yè)、大學(xué)、新材料工業(yè)、ic芯片測(cè)試、電路板、元器件測(cè)試等領(lǐng)域。
溫度范圍以及型號(hào)：
tes-45℃～250℃：tes-4525、tes-4525w、tes-4555、tes-4555w等；
tes-85℃～200℃：tes-8525w、tes-8555w等；
tes-60℃～200℃：tes-6a15wpex、tes-6a15wdex、tes-6a25wpex、tes-6a25wdex、tes-6a45wpex、tes-6a45wdex、tes-6a60wpex、tes-6a60wdex；
二、氟化液制冷加熱控溫系統(tǒng)
溫度控制范圍：-80℃~+80℃
溫度控制精度：±0.1℃
應(yīng)用于半導(dǎo)體和電氣工業(yè)、新材料工業(yè)、ic芯片測(cè)試、電路板、元器件測(cè)試等領(lǐng)域。
溫度范圍以及型號(hào)：
lts-20℃～80℃ ：lts-202、lts-202w、lts-203w、lts-204w、lts-206w、 lts-203、lts-204、 lts-206、 lts-208、lts-208w；
lts-40℃～80℃ ：lts-402、lts-403、 lts-404、 lts-406、 lts-408、lts-402w、 lts-403w、 lts-404w、 lts-406w、 lts-408w；
lts-60℃～80℃ ：lts-602、 lts-603、 lts-604、 lts-606、 lts-608、lts-602w、 lts-603w、 lts-604w、 lts-606w、 lts-608w；
lts-80℃～80℃：lts-802、 lts-803、 lts-804、 lts-806、 lts-808、lts-802w、 lts-803w、 lts-804w、 lts-806w、 lts-808w；
三、高低溫沖擊測(cè)試機(jī)
溫度控制范圍：-115℃~+225℃
溫度控制精度：±0.5℃
射流式高低溫沖擊測(cè)試機(jī)給芯片、模塊、集成電路板、電子元器件等提供準(zhǔn)確且快速的環(huán)境溫度。是對(duì)產(chǎn)品電性能測(cè)試、失效分析、可靠性評(píng)估的儀器設(shè)備。
溫度范圍以及型號(hào)：
-45℃～225℃：aes-4535、aes-4535w；
-60℃～225℃：aes-6035；
-80℃～225℃：aes-8035w ；
-100℃～225℃： aes-a1035w；
-115℃～225℃：aes-a1235w；
四、ai循環(huán)風(fēng)控制系統(tǒng)
溫度控制范圍：-105℃~+125℃
溫度控制精度：±0.2℃
應(yīng)用于半導(dǎo)體設(shè)備高低溫測(cè)試；電子設(shè)備高溫、低溫、恒溫測(cè)試?yán)錈嵩?；?dú)立的制冷循環(huán)風(fēng)機(jī)組；可連續(xù)長時(shí)間工作，自動(dòng)除霜，除霜過程不影響庫溫。
溫度范圍以及型號(hào)：
-65℃～+125℃：ai-6535、ai-6535w ；
-80℃～+125℃：ai-8035w
-105℃～+125℃：ai-1055w
五、小型氣體制冷機(jī)
溫度控制范圍：-110℃~-40℃
應(yīng)用于將無腐蝕性氣體降溫使用，如干燥壓縮空氣、氮?dú)?、氬氣等常溫氣體通入到lq系列設(shè)備內(nèi)部，出來的氣體即可達(dá)到目標(biāo)低溫溫度，供給需求測(cè)試的元件或者換熱器中。
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